ニュース・リリース

EMI解析装置「EMV−200」の電磁界同時測定オプションを開発

2006年4月11日

　株式会社日立ディスプレイデバイシズ（代表取締役社長：市川 光男）は、EMI注1対策設計をサポートするため、プリント基板やＩＣなどの磁界強度分布を測定するEMI解析装置「EMV−200」の機能をさらに強化し、プローブ注2による至近距離での自動トレースにより、電界と磁界を同時に測定可能とする「電磁界同時測定オプション」を開発しました。

　近年、デジタル機器の普及により、電子機器は高機能化する一方で、EMI対策が重要となっております。電子機器設計時のEMI解析が必要不可欠となっており、「EMV−200」による至近距離磁界測定は業界で好評を頂いております。しかし電界や磁界の強度分布を測定する場合、従来は個別の測定プローブを準備する必要があるため、実際の解析では磁界測定にとどまっていました。このため電磁界同時測定のニーズが高まっていました。

　今回、当社は、太陽誘電株式会社との技術提携注3による電磁界同時測定可能なプローブと「EMV−200」用の専用ソフトを開発し、電界と磁界を同時に測定する「電磁界同時測定オプション」を実用化しました。
原理は、測定プローブと試料間の静電結合により発生する電流（電界と比例）と電磁誘導により発生する電流（磁界）とを演算することで、それぞれの強度を測定可能にするものです。

　本オプションを搭載した「EMV−200」は、4月19日から幕張メッセ（千葉市美浜区）で開催される「TECHNO−FRONTIER2006　EMC・ノイズ対策技術シンポジウム」の日立ディスプレイデバイシズブースにて展示し、受注を開始します。

　なお、「EMV−200」の詳細については、以下のホームページを参照ください。

用語説明

注1 EMI（Electro　Magnetic　Interference） 電磁障害。電子機器の回路内で電磁波が発生し、周囲の電子機器に影響を及ぼすこと。 注2 プローブ 電子機器の近傍の電磁界を測定するためのセンサー。 注3 太陽誘電(株)との技術提携 太陽誘電株式会社と開発したプローブを使用することにより、従来、個々の測定していた電界と磁界の同時測定が可能となった。

この発表に関するお問い合わせ先

株式会社　日立ディスプレイデバイシズ

営業部　第2グループ　TEL 0475-25-9075　　麻生 悦代